TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有更高測(cè)試頻率的新型數(shù)字電容測(cè)量?jī)x器，其體積小，緊湊便攜，便于上架使用。該儀器測(cè)量電容基本精度為±0.07%，損耗精度高達(dá)0.0005，測(cè)試頻率zui高可達(dá)1MHz，4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面，操作方便快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測(cè)試提供高速、可靠的測(cè)量。該儀器能夠測(cè)量從低值到高值的各類(lèi)電容。在對(duì)同一個(gè)電容器進(jìn)行多次測(cè)量的結(jié)果*性好，即使是很低的電容值也可以很地測(cè)量出來(lái)。該儀器兼容SCPI命令集，帶有機(jī)械手接口和掃描器接口，掃描接口可逐個(gè)的對(duì)各個(gè)測(cè)試通道到開(kāi)路/短路/負(fù)載誤差校正進(jìn)行掃描，zui多可以掃描256個(gè)通道。在低頻測(cè)量時(shí)，當(dāng)被測(cè)件阻抗很小時(shí)，信號(hào)源內(nèi)阻和測(cè)試線纜將會(huì)引起被測(cè)件兩端的電壓低于設(shè)定電壓范圍，使用儀器的信號(hào)電平補(bǔ)償功能就會(huì)調(diào)整被測(cè)件上的電平到設(shè)定值范圍內(nèi)。
   TH2638系列特別針對(duì)生產(chǎn)線測(cè)試上增加了對(duì)不良接觸的檢查功能，測(cè)量時(shí)無(wú)需額外的時(shí)間來(lái)執(zhí)行此操作就能夠檢測(cè)到被測(cè)器件與測(cè)試儀器之間可能出現(xiàn)的不良接觸；儀器具有在實(shí)際測(cè)試保持同步的信號(hào)源功能，只在進(jìn)行真正測(cè)試的時(shí)候才把測(cè)試信號(hào)施加到被測(cè)器件上，在放置和取下被測(cè)器件的瞬間不會(huì)給被測(cè)器件施加測(cè)試信號(hào)，這樣就顯著的降低了在接觸不良的情況下較大測(cè)試電流對(duì)測(cè)試夾具或觸點(diǎn)的蝕損；當(dāng)前測(cè)試頻率為1MHz時(shí)，可對(duì)測(cè)試頻率進(jìn)行偏移設(shè)置（偏移值為±1%，±2%）這一功能在陣列式電容器測(cè)試系統(tǒng)中可消除相鄰測(cè)量終端受到干擾，還可以降低測(cè)量結(jié)果的波動(dòng)。儀器還帶有料箱分類(lèi)功能，可以按照產(chǎn)品的質(zhì)量設(shè)置9個(gè)料箱根據(jù)C-D/Q/R/G的測(cè)試結(jié)果確定產(chǎn)品合格與不合格，并放入不同等級(jí)到料箱內(nèi)。

性能特點(diǎn)

■ *替代AgilentE4981A

■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面

■ zui高1MHz的測(cè)試頻率(100Hz，120Hz，1kHz，10kHz，100kHz，1MHz),增加了100Hz,10kHz 和100kHz四點(diǎn)頻率，可對(duì)薄膜電容、電解電容、電力電容在該頻率下進(jìn)行高速測(cè)試更方便地進(jìn)行該頻率下串聯(lián)等效電阻ESR的測(cè)試,這點(diǎn)是同惠*的

■ zui高測(cè)試速度：2.3ms/次,并有五檔速度選擇

■ 測(cè)試電容基本精度±0.07%

■ 損耗因數(shù)：±0.0005

■ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

■ 低阻抗測(cè)試，信號(hào)電平補(bǔ)償功能

■ 內(nèi)建比較器，11檔分選

■ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤(pán)文件保存

■ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤(pán)

■ 截屏保存到U盤(pán)

■ 兼容SCPI命令集

■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口

■ HANDLER接口、SCANNER接口、機(jī)械手接口

■ 接觸檢查功能

■ 同步信號(hào)源

■ 1MHz時(shí)的測(cè)試頻率帶有偏移功能（±1%，±2%）

■ 10點(diǎn)列表掃描，可對(duì)頻率、電壓進(jìn)行掃描

技術(shù)參數(shù)

注：1MHz時(shí)包含 1MHz±1%，1MHz±2%  a: 1 x 10 -18, E: 1 x 10 的18次方